1945年，法拉第（Faraday）在探索电磁现象和光学现象之间的联系时，发现了一种现象，当一束平面偏振光穿过介质时，如果在介质中，沿光的传播方向上加一个磁场，就会观察到光经过样品后偏振面转过一个角度，亦即磁场使介质具有了旋光性，这种现象后来称为法拉第效应。1896年,荷兰物理学家塞曼(P.Zeeman)发现当光源放在足够强的磁场中时，原来的一条光谱线分裂成几条光谱线，分裂的谱线成分是偏振的，分裂的条数随能级的类别而不同，后人称此现象为塞曼效应。法拉第效应和塞曼效应是19世纪实验物理学家的重要成就之一，它们有力的支持了光的电磁理论。

  本公司生产的 JF-FZ-C型法拉第效应塞曼效应综合实验仪是在I型的基础上改进而成，将原来一维调节的氦氖激光器改为两维调节的半导体激光器，这样完成法拉第效应时调节更加准确方便，并且激光输出功率更加稳定。电磁铁中心磁场强度也比以前有了显著提高，可以达到1.4T。测角仪器将原来的游标测量的方法改为螺旋测微（将角位移转换为直线位移），这样读数更加方便。该实验仪可以作为大专院校光学及近代物理实验教学使用，也可以作为测量材料特性、光谱及磁光作用的研究应用。

一、技术参数：

  1. 半导体激光器波长650nm 输出功率 1.5mW 光斑直径1mm ；

  2. 电磁铁磁感应强度约0-1.35T（与励磁电源有关）；

  3. 励磁电源输出电流 0-5A 输出电压 0-30V；

  4．低压汞灯启辉电压1500V灯管直径6.5mm；

  5．法布里－珀罗标准通光口径40mm间隔 2mm；

  6．读数显微镜分辨率0.01mm测量范围 8mm；

  7．法拉第效应测角约 大于等于2分。