其次，仪器测试灵敏度提高了一倍，这样测试信号整体稳定性得到了大大改善，这样可以进一步研究单原子层厚度的磁性薄膜的性质，在磁性超薄膜的磁有序、磁各向异性、层间耦合和磁性超薄膜的相变行为等方面的研究中发挥更重要的作用。

  再有，环形电磁铁进一步改进，在不改变中心磁感应强度的情况下，缩小磁铁结构，这样更加有利于与超高真空系统连接，对磁性薄膜和超薄膜进行原位测量。

一、仪器主要技术参数：

  1.实验平台光学减振组合式实验台，台面尺寸 1200×900mm，M6螺孔，孔距25×25mm；

  2.高稳定度半导体激光器，波长650nm，输出功率2mW左右，光斑直径大于等于1mm；

  3.偏振棱镜通光孔径8mm，消光比10 -5 ，主透比90％；

  4.环形电磁铁中心磁感应强度0-2800Gs，磁间隙30mm；

  5.精密恒流电源电压0-38V，输出电流 0-10A。